Intelliwave是一款功能非常強大且應(yīng)用非常廣泛的干涉圖形攫取分析工具。通常用于量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導(dǎo)體芯片、和其它許多反射或不反射的表面，本次為大家提供的是intelliwave中文版，可以在你工作的方方面面為你提供獨到的幫助。歡迎感興趣的朋友前來JZ5U下載Intelliwave使用！

特色介紹

intelliwave中文版能夠很好地進(jìn)行所需的各項自動化質(zhì)量檢測，為你帶來相位測量服務(wù)，支持干涉條紋的描繪功能，能夠很好地實現(xiàn)光程差的計算，幫助用戶們應(yīng)用到圖像加工等眾多行業(yè)帶來最佳的使用體驗！
為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要制造一個光學(xué)相位差來獲得干涉圖形，因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在于鑒定待測光學(xué)儀器的表面外型。Intelliwave 結(jié)合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點。

功能介紹

使用范圍
光學(xué)統(tǒng)的動態(tài)控制
全像攝影
極溫度（ Extreme Temperature）的應(yīng)用
天文上的應(yīng)用 : 天文鏡片、天文望遠(yuǎn)鏡
對于非球狀光學(xué)結(jié)構(gòu)有高分辨率
在半導(dǎo)體上的應(yīng)用
高功率激光的外型和反射特性的量測
光學(xué)量測