Ram Stress Test是一款好用的維修級(jí)內(nèi)存條檢測(cè)工具。Ram Stress Test完全可以取代昂貴的內(nèi)存檢測(cè)卡，可以幫助用戶檢測(cè)內(nèi)存條是否存在顆粒損壞和PCB板是否短路等常見故障問題，支持檢測(cè)SD內(nèi)存、DDR內(nèi)存等。無論是電腦店還是個(gè)人使用可以說都是十分好用的了，推薦大家下載！

使用方法

下載后解壓后，用UltraISO制作到U盤啟動(dòng)，不依賴任何操作系統(tǒng)，只要BIOS能識(shí)別的內(nèi)存它都能檢測(cè);包內(nèi)軟件是用Nero燒錄可啟動(dòng)光盤的軟盤鏡像文件

1、點(diǎn)不亮內(nèi)存的測(cè)試方法——很多內(nèi)存短路或者顆粒損壞后都不能點(diǎn)亮，點(diǎn)不亮的可以用一根好的內(nèi)存去帶動(dòng)它(可解決部分點(diǎn)不亮問題)。必須SD的帶SD的，DDR的帶DDR的。本軟件會(huì)自動(dòng)跳過好的去檢測(cè)壞的那根

2、發(fā)現(xiàn) ATS 選項(xiàng)錯(cuò)誤，在BIOS中，記憶體選項(xiàng)設(shè)成Auto時(shí)，記憶體的CL=2，改成Manual，自設(shè)CL=2.5時(shí)，上述選項(xiàng)才能通過

3、程序執(zhí)行后，第一選項(xiàng)是測(cè)試物理內(nèi)存中基本內(nèi)存地址(<640K)，第二項(xiàng)是擴(kuò)展內(nèi)存地址，第三項(xiàng)是測(cè)試CPU的 L2 cache

4、軟件為光盤鏡像文件，用刻錄機(jī)做成成啟動(dòng)光盤(如需要軟盤版的請(qǐng)留言說明)，使用非常簡(jiǎn)易，電腦只要設(shè)定為軟、光盤啟動(dòng)，插入制作好的盤即可自動(dòng)運(yùn)行。它是一個(gè)獨(dú)立開發(fā)的系統(tǒng)，沒有依附任何作業(yè)系統(tǒng)，相容于x86系列，只要BIOS認(rèn)的到的容量都能測(cè)

5、可以測(cè)試SD及DDR內(nèi)存

6、閃動(dòng)數(shù)字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

依次代表內(nèi)存條的8顆顆粒

從左到右橫著數(shù)：0-7代表第1顆粒區(qū)域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表第7顆粒、8-F代表第8顆粒